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產(chǎn)品中心

ATE測試板
ZENFOCUS(澤豐)具備主流ATE測試平臺硬件開發(fā)能力
自主研發(fā)LB（Load Board）和PIB（Probe Interface Board），其中LB用于IC封裝后的成品測試（FINAL TESTNG），PIB用于晶圓測試（WAFER TESTNG）； 對HPC、網(wǎng)絡(luò)、無線、PMIC、MULTMEDIA、MEMORY、RF等類型IC的LB和PIB擁有豐富的設(shè)計經(jīng)驗。

滾動探索

Load Board

ZENFOCUS（澤豐）生產(chǎn)與高端廠商產(chǎn)品齊平的高性能測試板，其高速、高頻特性與仿真測試數(shù)據(jù)呈現(xiàn)高

Probe Card Components

ZENFOCUS（澤豐）具有獨立的MLC/ MLO設(shè)計及加工能力，具備PCBA/

DSA

ZENFOCUS（澤豐）滿足多樣的定制化需求，實現(xiàn)配件全面國產(chǎn)化。

BIB Design

擁有HTOL（Criteria，Incal 160，ect.)、HAST/THB

產(chǎn)品優(yōu)勢
  • 最大尺寸：570*650mm
  • 最大厚度：10mm
  • 厚度公差：±5%
  • 疊孔次數(shù)：3
  • 最多壓合次數(shù)：4（包括HDI）
  • 平整度（DUT區(qū)域)：50μm
  • 信號速率：112G PAM4/65G NRZ
  • 最大層數(shù)：＞100層
  • BGA DUT Pitch(最小)：0.35mm

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